Sukaria, Muhammad Ikhsan. “Transformasi Tes Diagnostik Two Tier Ke Four-Tier Berbasis Representasi Jamak Pada Konsep Atom Dan Molekul”. Arfak Chem: Chemistry Education Journal, vol. 8, no. 1, June 2025, pp. 714-2, doi:10.30862/accej.v8i1.921.